確保膜厚儀測量數(shù)據(jù)更準確你知道哪些方面是重點么 膜厚儀分為手持式膜厚儀和臺式膜厚儀兩種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 臺式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。 保障膜厚儀測量顯示值準確性必要懂得以下小技巧
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。 檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。 不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 不應在試件的彎曲表面上測量。 通常由于膜厚儀的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。 表面清潔度測量前，應表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。 以是介紹膜厚儀檢測試樣準確性的方法，別錯過哦！
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